「パワーデバイスの故障予測を可能にするモニタリング技術 」　九州工業大学　大学院工学研究院　電気電子工学研究系　助教　渡邉 晃彦

「九州工業大学 新技術説明会」（2017年12月12日開催）にて発表。https://shingi.jst.go.jp/list/kyutech/2017_kyutech.html

【新技術の概要】
パワーデバイスの新しい故障解析技術。リアルタイムモニタリングをベースとした故障解析技術であり、特に動作中デバイスのパッケージ内部構造の劣化を非破壊で捉える技術は世界で唯一。パワーデバイスの故障の早期発見、故障予測、寿命予測への応用が可能であり、パッケージ構成材料の劣化・耐久性試験への応用も期待できる。

【従来技術・競合技術との比較】
本技術は、パワーデバイスが故障にいたる過程での状態変化を時間軸で捉えることを可能にし、従来の故障後および抜取りサンプルによる故障解析と比較し、故障原因の早期特定が可能である。また、パッケージを開封しない故障解析であるため、実際の動作状態と同等の環境での故障解析が可能である。

【新技術の特徴】
・動作中デバイスの内部劣化を観察できる
・故障にいたるプロセスの連続データを取得可能
・内部劣化の定量化が可能

【想定される用途】
・パワーデバイスの故障解析
・故障予測・寿命予測
・パッケージ材料の劣化・耐久性試験

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